Laboratorio de Microscopia Avanzada

Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM  y

análisis microelemental EDS

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Imágenes de microscopía electrónica de barrido obtenidas por el modelo EM 30AX Plus de COXEM

El Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM  y análisis microelemental EDS es prestado por nuestro Laboratorio de Microscopia Avanzada, que cuenta con un equipo de trabajo que le ayudará a escoger las mejores condiciones para su análisis en microscopia SEM y análisis micro elemental. 

Las técnicas de análisis superficial para realizar estudios de morfología, topografía y barrido composicional han tomado tal relevancia en el análisis de materiales, convirtiéndose así en herramientas de primera mano en la diferentes áreas den la innovación. 

Técnicas de análisis:

Preparación de muestrasObservación de muestrasAnálisis micro elemental EDS
Para muestras biológicas, poliméricas, cerámicos y cualquier otro material no conductor por recubrimiento por pulverización catódica y secado por secado de punto crítico. Microscopia de alta resolución SEM para análisis de materiales, medicina, geología y análisis de suelos, biología entre otros.Microscopia de alta resolución para análisis micro elemental, caracterización elemental por EDS de materiales.

 

 
 

 ¿No sabe que técnica utilizar? Contamos también con un equipo de profesionales que lo pueden asesorar para montaje de métodos, interpretación y análisis de resultados, o para determinar la técnica que usted necesita. CONTÁCTENOS

Servicios

Los servicios ofrecidos cubren el rango desde preparación de muestras hasta análisis por microscopia SEM o micro elemental EDS: 

ServicioInstrumento
Secado de punto críticoSecador de punto crítico
Recubrimiento de muestrasRecubridor por pulverización catódica
Observación de muestrasMicroscopio Electrónico de Barrido detectores SE y BSE
Análisis microelemental sobre superficieAnálisis micro elemental con Microscopio Electrónico de Barrido y detector EDS

Microscopia Electrónica de Barrido

Principio de operación

El Servicio de microscopia electrónica de barrido está basado en el principio de operación de un microscopio que utiliza electrones para construir imágenes de objetos tan pequeños como decenas de nanómetros (nm) con una alta resolución cercana a los 5 nm.

Construcción de la imagen de electrones

Teniendo en cuenta que se utilizan electrones para construir la imagen, una imagen de electrones se debe construir a partir de un espécimen.  A grandes rasgos una imagen de electrones se construye de la siguiente manera: 

  • Generación de un haz de electrones con alta energía:  este haz se genera al someter un filamento tradicionalmente de tungsteno a una diferencia de voltaje el cual hace que el material del filamento experimente altas temperaturas y fenómeno de emisión termoiónica.
  • Concentración del haz de electrones: a través de una serie de lentes electromagnéticos el haz es concentrado mediante campos electromagnéticos y se conduce a través de aperturas circulares calibradas lo que permite volver el haz circular. 
  • Impacto del haz sobre el área superficial del espécimen: se generan diferentes señales de esta interacción haz/espécimen dentro de las cuales se encuentran señal de electrones secundarios (SE) y señal de electrones retrodispersos (BSE)
  • Detección de la señal: para cada señal SE y BSE se posee un detector que detecta  la señal que posteriormente será amplificada y analizada.
  • Visualización de la imagen: las señales amplificadas y analizadas son mostradas en una pantalla de computador en una escala de grises para su visualización.   

Dado que el efecto los filamentos en presencia de oxigeno y altas temperaturas experimenta reacción de oxidación el experimento deberá ser llevado a cabo en alto vacío (1E-5 Torr).

  • Por lo tanto el sistema se confina en una cámara que resista alto vacío y deberán utilizarse bombas mecánicas y turbo moleculares  para lograr el vacío optimo. 

Instrumentos para realizar servicio de microscopia electrónica de barrido 

Microscopio electrónico de barrido

Para la prestación de servicio de microscopia electrónica de barrido nuestro laboratorio cuenta con microscopio electrónico de barrido marca Coxem modelo EM30AX Plus 

Servicio de microscopia electrónica de barrido

Microscopio electrónico de barrido de sobre mesa del Laboratorio de Microscopia

 

Especificaciones técnicas de microscopio electrónico de barrido EM 30AX Plus
Configuración del sistemaPistola de electronesFilamento de tungsteno W
Resolución≤ 5 nm
Magnificación20X - 150,000X
Voltaje1kV - 30kV, libre +/- 1kV
DetectoresDetector SE, Detector BSE tipo sólido de 4 canales
EtapasEtapasMotorizadas X: 35 mm Y:35 mm T:0 - 45; R: 360° (Rotación de haz) Z:5-50 mm
Tamaño de muestraH: 45 mm Φ: 60 mm
ImagenModos de imagen para Captura de pantalla (pixel)1280x960, 2560x1900, 5120x3840

Servicios

Servicio de microscopia electrónica de barrido

ServicioCaracterísticaDescripción
Observación de muestrasAmbiente de observaciónAlto vacío
ServicioPor hora
SesiónMínimo de dos (2) horas
DetectoresElectrones secundarios (SE)
Electrones retrodispersos (BSE)
Registro de imágenesJPG/ BMP
ValorConsultar a nuestros asesores

 

Análisis micro elemental SEM-EDS

Principio de operación 

El análisis micro elemental SEM-EDS utiliza espectroscopía de rayos x de energía dispersa (EDS por sus siglas en inglés) que analiza los rayos x generado como producto de la interacción del haz de electrones de un microscopio electrónico de barrido con material sometido a análisis para la identificación y cuantificación de rayos x característicos de elementos desde el Berilio hasta el Americio.   

Para la detección se emplea un detector fabricado con silicio y litio Si(Li) en estado sólido que capta los rayos x para luego ser enviados a un amplificador de señal y convertidores de señal que envían la información a un analizador o sistema de computo que presenta la información como espectros intensidad (conteos por segundo – cps) contra energía de emisión (keV).  

Instrumentos para el análisis micro elemental SEM-EDS

Dado que el análisis micro elemental SEM-EDS requiere de un has de electrones para generar los rayos x característicos el detector EDS se encuentra integrado al microscopio electrónico de barrido de sobremesa EM 30AX plus en unos de sus cuatro puertos para instalación de detectores.

Microscopio electrónico de barrido

Detector EDS integrado

El análisis microelemental EDS integrado realiza análisis superficial a las muestras cuantificando por método ZAF los elemento que contiene su material.  

Nuestro detector es excepcional:

  • EDAX Element  especialmente diseñado y optimizado para sistemas de sobre mesa
  • Con ventana de 25 mm2 que le permite realizar cualquier análisis micro elemental en el rango del Be al Am. 
  • ventana de Si3N4 que mejora la detección para elementos ligeros y de baja energía 
  • bajo ruido electrónico que mejora el rendimiento
Espectroscopía de rayos x de energía dispersa para análisis micro elemental SEM-EDS

Detector SDD marca EDAX modelo Element

Especificaciones técnicas de detector EDS integrado a microscopio SEM marca EDAX modelo Element
Resolución Mn K 133 eV o mejor
Tamaño de ventana25 mm2
Material de ventanaSi3N4
RefrigeraciónDos etapas tipo Peltier
Rango de detecciónBe al Am
Relación pico a ruido10.000:1

Servicios

Los servicios ofrecidos por el Laboratorio de Microscopia Avanzada cubren el rango desde preparación de muestras hasta el análisis micro elemental SEM-EDS. 

Cada servicio en nuestro laboratorio se realiza con los más altos estándares de calidad para lograr efectivamente el objetivo de nuestros cliente. 

Análisis micro elemental SEM-EDS 

Servicio CaracterísticaDescripción
Análisis microelemental sobre superficieAmbiente de análisisAlto vacío
ServicioPor hora
SesiónMínimo dos horas
InstrumentoMicroscopio Electrónico de Barrido EM 30AX Plus
DetectorEDS Silicon Drift Detector (SDD) marca EDAX modelo Element
ValorConsultar a nuestros asesores

Preparación de muestras

Instrumentos

Recubridor por pulverización catódica

Especímenes no conductores cómo materiales poliméricos, cerámicos y biológicos deberán ser recubiertos por una capa fina de metal conductor mediante técnica de pulverización catódica. El laboratorio de microscopía electrónica de barrido cuenta con un recubridor por pulverización catódica marca Coxem modelo SPT 20 el cual puede realizar recubrimientos delgados con las siguientes características:

Instrumento metalizador de muestras no conductoras modelo SPT 20

 

Especificaciones técnicas de Recubridor por pulverización catódica SPT 20
TargetAu
Tamaño de target50 mm
Corriente de ionización0 - 9 mA
Tamaño de cámara100 mm Diámetro
Tamaño de muestra a recubrir 50 mm altura
90 mm díametro
Espesor de recubrimientoControlado por tiempo (s) y corriente (mA)

Servicios

Preparación de muestras 

ServicioCaracterísticaDescripción
Secado de punto críticoServicioPor carga
Cantidad por cargaHasta 6 muestras de max. 0.5 cm x 0.5 cm x 0.5 cm o su volumen equivalente
ValorConsultar a nuestros asesores
Recubrimiento de muestrasServicioPor carga
Tipo de recubrimientoAu
Cantidad de muestra por carga6 muestras de máx. 15 mm diámetro x 45 mm de altura o su volumen equivalente
Valor Consultar a nuestros asesores

 

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