Laboratorio de Microscopia Avanzada

Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM  y

análisis microelemental EDS

El Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM  y análisis microelemental EDS es prestado por nuestro Laboratorio de Microscopia Avanzada, que cuenta con un equipo de trabajo que le ayudará a escoger las mejores condiciones para su análisis en microscopia SEM y análisis micro elemental. 

Las técnicas de análisis superficial para realizar estudios de morfología, topografía y barrido composicional han tomado tal relevancia en el análisis de materiales, convirtiéndose así en herramientas de primera mano en la diferentes áreas den la innovación. 

Técnicas de análisis:

Preparación de muestras	Observación de muestras	Análisis micro elemental EDS
Para muestras biológicas, poliméricas, cerámicos y cualquier otro material no conductor por recubrimiento por pulverización catódica y secado por secado de punto crítico.	Microscopia de alta resolución SEM para análisis de materiales, medicina, geología y análisis de suelos, biología entre otros.	Microscopia de alta resolución para análisis micro elemental, caracterización elemental por EDS de materiales.

 

 ¿No sabe que técnica utilizar? Contamos también con un equipo de profesionales que lo pueden asesorar para montaje de métodos, interpretación y análisis de resultados, o para determinar la técnica que usted necesita. CONTÁCTENOS

Servicios

Los servicios ofrecidos cubren el rango desde preparación de muestras hasta análisis por microscopia SEM o micro elemental EDS: 

Servicio	Instrumento
Secado de punto crítico	Secador de punto crítico
Recubrimiento de muestras	Recubridor por pulverización catódica
Observación de muestras	Microscopio Electrónico de Barrido detectores SE y BSE
Análisis microelemental sobre superficie	Análisis micro elemental con Microscopio Electrónico de Barrido y detector EDS

Microscopia Electrónica de Barrido

Principio de operación

El Servicio de microscopia electrónica de barrido está basado en el principio de operación de un microscopio que utiliza electrones para construir imágenes de objetos tan pequeños como decenas de nanómetros (nm) con una alta resolución cercana a los 5 nm.

Construcción de la imagen de electrones

Teniendo en cuenta que se utilizan electrones para construir la imagen, una imagen de electrones se debe construir a partir de un espécimen.  A grandes rasgos una imagen de electrones se construye de la siguiente manera: 

• Generación de un haz de electrones con alta energía:  este haz se genera al someter un filamento tradicionalmente de tungsteno a una diferencia de voltaje el cual hace que el material del filamento experimente altas temperaturas y fenómeno de emisión termoiónica.
• Concentración del haz de electrones: a través de una serie de lentes electromagnéticos el haz es concentrado mediante campos electromagnéticos y se conduce a través de aperturas circulares calibradas lo que permite volver el haz circular. 
• Impacto del haz sobre el área superficial del espécimen: se generan diferentes señales de esta interacción haz/espécimen dentro de las cuales se encuentran señal de electrones secundarios (SE) y señal de electrones retrodispersos (BSE)
• Detección de la señal: para cada señal SE y BSE se posee un detector que detecta  la señal que posteriormente será amplificada y analizada.
• Visualización de la imagen: las señales amplificadas y analizadas son mostradas en una pantalla de computador en una escala de grises para su visualización.   

Dado que el efecto los filamentos en presencia de oxigeno y altas temperaturas experimenta reacción de oxidación el experimento deberá ser llevado a cabo en alto vacío (1E-5 Torr).

• Por lo tanto el sistema se confina en una cámara que resista alto vacío y deberán utilizarse bombas mecánicas y turbo moleculares  para lograr el vacío optimo. 

Instrumentos para realizar servicio de microscopia electrónica de barrido 

Microscopio electrónico de barrido

Para la prestación de servicio de microscopia electrónica de barrido nuestro laboratorio cuenta con microscopio electrónico de barrido.

 

Especificaciones técnicas de microscopio electrónico de barrido EM 30AX Plus
Configuración del sistema	Pistola de electrones	Filamento de tungsteno W
	Resolución	≤ 5 nm
	Magnificación	20X - 150,000X
	Voltaje	1kV - 30kV, libre +/- 1kV
	Detectores	Detector SE, Detector BSE tipo sólido de 4 canales
Etapas	Etapas	Motorizadas X: 35 mm Y:35 mm T:0 - 45; R: 360° (Rotación de haz) Z:5-50 mm
	Tamaño de muestra	H: 45 mm Φ: 60 mm
Imagen	Modos de imagen para Captura de pantalla (pixel)	1280x960, 2560x1900, 5120x3840

Servicios

Servicio de microscopia electrónica de barrido

Servicio	Característica	Descripción
Observación de muestras	Ambiente de observación	Alto vacío
	Servicio	Por hora
	Sesión	Mínimo de dos (2) horas
	Detectores	Electrones secundarios (SE) Electrones retrodispersos (BSE)
	Registro de imágenes	JPG/ BMP
	Valor	Consultar a nuestros asesores

 

Análisis micro elemental SEM-EDS

Principio de operación 

El análisis micro elemental SEM-EDS utiliza espectroscopía de rayos x de energía dispersa (EDS por sus siglas en inglés) que analiza los rayos x generado como producto de la interacción del haz de electrones de un microscopio electrónico de barrido con material sometido a análisis para la identificación y cuantificación de rayos x característicos de elementos desde el Berilio hasta el Americio.   

Para la detección se emplea un detector fabricado con silicio y litio Si(Li) en estado sólido que capta los rayos x para luego ser enviados a un amplificador de señal y convertidores de señal que envían la información a un analizador o sistema de computo que presenta la información como espectros intensidad (conteos por segundo – cps) contra energía de emisión (keV).  

Instrumentos para el análisis micro elemental SEM-EDS

Dado que el análisis micro elemental SEM-EDS requiere de un has de electrones para generar los rayos x característicos el detector EDS se encuentra integrado al microscopio electrónico de barrido de sobremesa EM 30AX plus en unos de sus cuatro puertos para instalación de detectores.

 

Detector EDS integrado

El análisis microelemental EDS integrado realiza análisis superficial a las muestras cuantificando por método ZAF los elemento que contiene su material.  

Nuestro detector es excepcional:

• EDAX Element  especialmente diseñado y optimizado para sistemas de sobre mesa
• Con ventana de 25 mm2 que le permite realizar cualquier análisis micro elemental en el rango del Be al Am. 
• ventana de Si₃N₄ que mejora la detección para elementos ligeros y de baja energía 
• bajo ruido electrónico que mejora el rendimiento

Especificaciones técnicas de detector EDS integrado a microscopio SEM marca EDAX modelo Element
Resolución	Mn K 133 eV o mejor
Tamaño de ventana	25 mm2
Material de ventana	Si3N4
Refrigeración	Dos etapas tipo Peltier
Rango de detección	Be al Am
Relación pico a ruido	10.000:1

Servicios

Los servicios ofrecidos por el Laboratorio de Microscopia Avanzada cubren el rango desde preparación de muestras hasta el análisis micro elemental SEM-EDS. 

Cada servicio en nuestro laboratorio se realiza con los más altos estándares de calidad para lograr efectivamente el objetivo de nuestros cliente. 

Análisis micro elemental SEM-EDS 

Servicio	Característica	Descripción
Análisis microelemental sobre superficie	Ambiente de análisis	Alto vacío
	Servicio	Por hora
	Sesión	Mínimo dos horas
	Instrumento	Microscopio Electrónico de Barrido EM 30AX Plus
	Detector	EDS Silicon Drift Detector (SDD) marca EDAX modelo Element
	Valor	Consultar a nuestros asesores

Preparación de muestras

Instrumentos

Recubridor por pulverización catódica

Especímenes no conductores cómo materiales poliméricos, cerámicos y biológicos deberán ser recubiertos por una capa fina de metal conductor mediante técnica de pulverización catódica. El laboratorio de microscopía electrónica de barrido cuenta con un recubridor por pulverización catódica marca Coxem modelo SPT 20 el cual puede realizar recubrimientos delgados con las siguientes características:

 

Especificaciones técnicas de Recubridor por pulverización catódica SPT 20
Target	Au
Tamaño de target	50 mm
Corriente de ionización	0 - 9 mA
Tamaño de cámara	100 mm Diámetro
Tamaño de muestra a recubrir	50 mm altura 90 mm díametro
Espesor de recubrimiento	Controlado por tiempo (s) y corriente (mA)

Servicios

Preparación de muestras 

Servicio	Característica	Descripción
Secado de punto crítico	Servicio	Por carga
	Cantidad por carga	Hasta 6 muestras de max. 0.5 cm x 0.5 cm x 0.5 cm o su volumen equivalente
	Valor	Consultar a nuestros asesores
Recubrimiento de muestras	Servicio	Por carga
	Tipo de recubrimiento	Au
	Cantidad de muestra por carga	6 muestras de máx. 15 mm diámetro x 45 mm de altura o su volumen equivalente
	Valor	Consultar a nuestros asesores

 

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