Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM y
análisis microelemental EDS
Imágenes de microscopía electrónica de barrido obtenidas por el modelo EM 30AX Plus de COXEM
El Servicio de microscopia electrónica de barrido SEM y análisis microelemental EDS es prestado por nuestro Laboratorio de Microscopia Avanzada, que cuenta con un equipo de trabajo que le ayudará a escoger las mejores condiciones para su análisis en microscopia SEM y análisis micro elemental.
Las técnicas de análisis superficial para realizar estudios de morfología, topografía y barrido composicional han tomado tal relevancia en el análisis de materiales, convirtiéndose así en herramientas de primera mano en la diferentes áreas den la innovación.
Técnicas de análisis:
| Preparación de muestras | Observación de muestras | Análisis micro elemental EDS |
| Para muestras biológicas, poliméricas, cerámicos y cualquier otro material no conductor por recubrimiento por pulverización catódica y secado por secado de punto crítico. | Microscopia de alta resolución SEM para análisis de materiales, medicina, geología y análisis de suelos, biología entre otros. | Microscopia de alta resolución para análisis micro elemental, caracterización elemental por EDS de materiales. |
¿No sabe que técnica utilizar? Contamos también con un equipo de profesionales que lo pueden asesorar para montaje de métodos, interpretación y análisis de resultados, o para determinar la técnica que usted necesita. CONTÁCTENOS
Servicios
Los servicios ofrecidos cubren el rango desde preparación de muestras hasta análisis por microscopia SEM o micro elemental EDS:
| Servicio | Instrumento |
|---|---|
| Secado de punto crítico | Secador de punto crítico |
| Recubrimiento de muestras | Recubridor por pulverización catódica |
| Observación de muestras | Microscopio Electrónico de Barrido detectores SE y BSE |
| Análisis microelemental sobre superficie | Análisis micro elemental con Microscopio Electrónico de Barrido y detector EDS |
Microscopia Electrónica de Barrido
Principio de operación
El Servicio de microscopia electrónica de barrido está basado en el principio de operación de un microscopio que utiliza electrones para construir imágenes de objetos tan pequeños como decenas de nanómetros (nm) con una alta resolución cercana a los 5 nm.
Construcción de la imagen de electrones
Teniendo en cuenta que se utilizan electrones para construir la imagen, una imagen de electrones se debe construir a partir de un espécimen. A grandes rasgos una imagen de electrones se construye de la siguiente manera:
- Generación de un haz de electrones con alta energía: este haz se genera al someter un filamento tradicionalmente de tungsteno a una diferencia de voltaje el cual hace que el material del filamento experimente altas temperaturas y fenómeno de emisión termoiónica.
- Concentración del haz de electrones: a través de una serie de lentes electromagnéticos el haz es concentrado mediante campos electromagnéticos y se conduce a través de aperturas circulares calibradas lo que permite volver el haz circular.
- Impacto del haz sobre el área superficial del espécimen: se generan diferentes señales de esta interacción haz/espécimen dentro de las cuales se encuentran señal de electrones secundarios (SE) y señal de electrones retrodispersos (BSE)
- Detección de la señal: para cada señal SE y BSE se posee un detector que detecta la señal que posteriormente será amplificada y analizada.
- Visualización de la imagen: las señales amplificadas y analizadas son mostradas en una pantalla de computador en una escala de grises para su visualización.
Dado que el efecto los filamentos en presencia de oxigeno y altas temperaturas experimenta reacción de oxidación el experimento deberá ser llevado a cabo en alto vacío (1E-5 Torr).
- Por lo tanto el sistema se confina en una cámara que resista alto vacío y deberán utilizarse bombas mecánicas y turbo moleculares para lograr el vacío optimo.
Instrumentos para realizar servicio de microscopia electrónica de barrido
Microscopio electrónico de barrido
Para la prestación de servicio de microscopia electrónica de barrido nuestro laboratorio cuenta con microscopio electrónico de barrido marca Coxem modelo EM30AX Plus
Microscopio electrónico de barrido de sobre mesa del Laboratorio de Microscopia
| Especificaciones técnicas de microscopio electrónico de barrido EM 30AX Plus | ||
|---|---|---|
| Configuración del sistema | Pistola de electrones | Filamento de tungsteno W |
| Resolución | ≤ 5 nm | |
| Magnificación | 20X - 150,000X | |
| Voltaje | 1kV - 30kV, libre +/- 1kV | |
| Detectores | Detector SE, Detector BSE tipo sólido de 4 canales | |
| Etapas | Etapas | Motorizadas X: 35 mm Y:35 mm T:0 - 45; R: 360° (Rotación de haz) Z:5-50 mm |
| Tamaño de muestra | H: 45 mm Φ: 60 mm | |
| Imagen | Modos de imagen para Captura de pantalla (pixel) | 1280x960, 2560x1900, 5120x3840 |
Servicios
Servicio de microscopia electrónica de barrido
| Servicio | Característica | Descripción |
|---|---|---|
| Observación de muestras | Ambiente de observación | Alto vacío |
| Servicio | Por hora | |
| Sesión | Mínimo de dos (2) horas | |
| Detectores | Electrones secundarios (SE) Electrones retrodispersos (BSE) |
|
| Registro de imágenes | JPG/ BMP | |
| Valor | Consultar a nuestros asesores |
Análisis micro elemental SEM-EDS
Principio de operación
El análisis micro elemental SEM-EDS utiliza espectroscopía de rayos x de energía dispersa (EDS por sus siglas en inglés) que analiza los rayos x generado como producto de la interacción del haz de electrones de un microscopio electrónico de barrido con material sometido a análisis para la identificación y cuantificación de rayos x característicos de elementos desde el Berilio hasta el Americio.
Para la detección se emplea un detector fabricado con silicio y litio Si(Li) en estado sólido que capta los rayos x para luego ser enviados a un amplificador de señal y convertidores de señal que envían la información a un analizador o sistema de computo que presenta la información como espectros intensidad (conteos por segundo – cps) contra energía de emisión (keV).
Instrumentos para el análisis micro elemental SEM-EDS
Dado que el análisis micro elemental SEM-EDS requiere de un has de electrones para generar los rayos x característicos el detector EDS se encuentra integrado al microscopio electrónico de barrido de sobremesa EM 30AX plus en unos de sus cuatro puertos para instalación de detectores.
Microscopio electrónico de barrido
Detector EDS integrado
El análisis microelemental EDS integrado realiza análisis superficial a las muestras cuantificando por método ZAF los elemento que contiene su material.
Nuestro detector es excepcional:
- EDAX Element especialmente diseñado y optimizado para sistemas de sobre mesa
- Con ventana de 25 mm2 que le permite realizar cualquier análisis micro elemental en el rango del Be al Am.
- ventana de Si3N4 que mejora la detección para elementos ligeros y de baja energía
- bajo ruido electrónico que mejora el rendimiento
Detector SDD marca EDAX modelo Element
| Especificaciones técnicas de detector EDS integrado a microscopio SEM marca EDAX modelo Element | |
|---|---|
| Resolución | Mn K 133 eV o mejor |
| Tamaño de ventana | 25 mm2 |
| Material de ventana | Si3N4 |
| Refrigeración | Dos etapas tipo Peltier |
| Rango de detección | Be al Am |
| Relación pico a ruido | 10.000:1 |
Servicios
Los servicios ofrecidos por el Laboratorio de Microscopia Avanzada cubren el rango desde preparación de muestras hasta el análisis micro elemental SEM-EDS.
Cada servicio en nuestro laboratorio se realiza con los más altos estándares de calidad para lograr efectivamente el objetivo de nuestros cliente.
Análisis micro elemental SEM-EDS
| Servicio | Característica | Descripción |
|---|---|---|
| Análisis microelemental sobre superficie | Ambiente de análisis | Alto vacío |
| Servicio | Por hora | |
| Sesión | Mínimo dos horas | |
| Instrumento | Microscopio Electrónico de Barrido EM 30AX Plus | |
| Detector | EDS Silicon Drift Detector (SDD) marca EDAX modelo Element | |
| Valor | Consultar a nuestros asesores |
Preparación de muestras
Instrumentos
Recubridor por pulverización catódica
Especímenes no conductores cómo materiales poliméricos, cerámicos y biológicos deberán ser recubiertos por una capa fina de metal conductor mediante técnica de pulverización catódica. El laboratorio de microscopía electrónica de barrido cuenta con un recubridor por pulverización catódica marca Coxem modelo SPT 20 el cual puede realizar recubrimientos delgados con las siguientes características:
Instrumento metalizador de muestras no conductoras modelo SPT 20
| Especificaciones técnicas de Recubridor por pulverización catódica SPT 20 | |
|---|---|
| Target | Au |
| Tamaño de target | 50 mm |
| Corriente de ionización | 0 - 9 mA |
| Tamaño de cámara | 100 mm Diámetro |
| Tamaño de muestra a recubrir | 50 mm altura 90 mm díametro |
| Espesor de recubrimiento | Controlado por tiempo (s) y corriente (mA) |
Servicios
Preparación de muestras
| Servicio | Característica | Descripción |
|---|---|---|
| Secado de punto crítico | Servicio | Por carga |
| Cantidad por carga | Hasta 6 muestras de max. 0.5 cm x 0.5 cm x 0.5 cm o su volumen equivalente | |
| Valor | Consultar a nuestros asesores | |
| Recubrimiento de muestras | Servicio | Por carga |
| Tipo de recubrimiento | Au | |
| Cantidad de muestra por carga | 6 muestras de máx. 15 mm diámetro x 45 mm de altura o su volumen equivalente | |
| Valor | Consultar a nuestros asesores |