Nuevo SEM Table Top EM-30AX Plus de Coxem

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Esta es la última tecnología de Microscopio Electrónico de barrido de sobremesa  que esta revolucionando la microscopia de alta resolución, un microscopio compacto totalmente electrónico con toda la potencia de un SEM normal. Navega por el nanomundo con COXEM.

El microscopio electrónico de barrido (MEB) compacto o Microscopio Electrónico de barrido de sobremesa EM 30AX Plus es la manera más versátil de llegar al mundo nanométrico y a la cuantificación micro-elemental. EM 30AX plus provee la más alta magnificación para un equipo compacto, fácil de usar, versátil para tareas que involucran muestras de todo tipo. Disponible con o sin EDS permite la resolución y magnificación que usted necesita: Resolución ≤5 nm y Magnificación: 20x ~150.000x.

Ademas de permitir la observación a nivel nanométrico, el microscopio electrónico de barrido de sobremesa tiene la posibilidad de realizar análisis elementales mediante la utilización de detectores de rayos X integrados. Combinado con imagen electrónica, los Rayos X son la mejor herramienta para entender la composición y distribución elemental de los materiales analizados.

Gracias al software de manejo conjunto con el Nanostation 3.0, el EDS integrado permite observar la distribución por elemento en la imagen de manera cualitativa y cuantitativa desde el elemento 6 (C) al 92 (U) de la tabla periódica.

MEB Compacto Especificaciones Tecnicas

MEB Compacto Especificaciones Tecnicas

Si quiere información adicional no dude en contactarnos: INTEK GROUP S.A.S.

Teléfonos: (571) 5473726 / (571) 2635536 / (57) 3163550400

Correo electrónicos: contacto@intekgroup.com.co

Página web: www.intekgroup.com.co[:en]Esta es la última tecnología que esta revolucionando la microscopia de alta resolución, un microscopio compacto totalmente electrónico con toda la potencia de un SEM normal. Navega por el nanomundo con COXEM.

El microscopio electrónico de barrido (MEB) compacto o Microscopio Electrónico de barrido de sobremesa  EM 30AX Plus es la manera más versátil de llegar al mundo nanométrico y a la cuantificación micro-elemental. EM 30AX plus provee la más alta magnificación para un equipo compacto, fácil de usar, versátil para tareas que involucran muestras de todo tipo. Disponible con o sin EDS permite la resolución y magnificación que usted necesita: Resolución ≤5 nm y Magnificación: 20x ~150.000x.

Ademas de permitir la observación a nivel nanométrico, el microscopio electrónico de barrido tiene la posibilidad de realizar análisis elementales mediante la utilización de detectores de rayos X integrados. Combinado con imagen electrónica, los Rayos X son la mejor herramienta para entender la composición y distribución elemental de los materiales analizados.

Gracias al software de manejo conjunto con el Nanostation 3.0, el EDS integrado permite observar la distribución por elemento en la imagen de manera cualitativa y cuantitativa desde el elemento 6 (C) al 92 (U) de la tabla periódica.

MEB Compacto Especificaciones Tecnicas

Especificaciones Técnicas: Microscopio Electrónico de barrido de sobremesa de sobremesa o Compacto

 

Si quiere información adicional no dude en contactarnos: INTEK GROUP S.A.S.

Teléfonos: (571) 5473726 / (571) 2635536 / (57) 3163550400

Correo electrónicos: contacto@intekgroup.com.co

Página web: www.intekgroup.com.co[:]

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