Microscopio SEM Compacto Flexsem HITACHI

Microscopio SEM Compacto Flexsem HITACHI

Esta es la última tecnología de Microscopio Electrónico de barrido SEM Compato que esta revolucionando la microscopia de alta resolución, un microscopio compacto totalmente electrónico con toda la potencia de un SEM normal.

El microscopio electrónico de barrido (MEB) compacto o Microscopio Electrónico de barrido de sobremesa Flexsem 1000 es la manera más versátil de llegar al mundo nanométrico y a la cuantificación micro-elemental. Flexsem provee la más alta magnificación para un equipo compacto, fácil de usar, versátil para tareas que involucran muestras de todo tipo. Disponible con o sin EDS permite la resolución y magnificación que usted necesita: Resolución ≤3 nm y Magnificación: 20x ~300.000x.

Ademas de permitir la observación a nivel nanométrico, el microscopio electrónico de barrido de sobremesa tiene la posibilidad de realizar análisis elementales mediante la utilización de detectores de rayos X integrados. Combinado con imagen electrónica, los Rayos X son la mejor herramienta para entender la composición y distribución elemental de los materiales analizados.

Gracias al software de manejo conjunto y el EDS integrado permite observar la distribución por elemento en la imagen de manera cualitativa y cuantitativa desde el elemento 6 (C) al 92 (U) de la tabla periódica.

Información adicional:

Teléfonos: (571) 5473726 / (571) 2635536 / (57) 3163550400

Correo electrónicos: contacto@intekgroup.com.co

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