Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)

– Microscopia Electrónica de Barrido –


La microscopia electrónica de barrido (MEB o SEM por sus siglas en inglés) es una técnica que emplea un instrumento de precisión para analizar estructura cuantitativa o cualitativamente de materiales microestructurados. Una imagen obtenida por SEM se construye mediante un haz de electrones  focalizados que realiza un barrido sobre la superficie de una muestra. Esto implica una mayor resolución y una mejor profundidad de campo con respecto a  los microscopios ópticos, dado que la longitud de onda de un haz de electrones es mucho menor que la de la luz. En la siguiente tabla se presentan las principales diferencias entre microscopia electrónica de barrido y la microscopia óptica.

CaracteristicaMicroscopia OpticaMicroscopia electrónica de Barrido
Máxima magnificaciónaprox. 1.000Xhasta 300.000X
Mejor resolución<0.2 µm<2 nm
Fuente de emisiónLuz visibleHaz de electrones
Tipo de lentesVidrioElectromagnéticos
Medio del sistema ópticoAireVacio

En SEM el haz de electrones, que recorre la muestra, interactúa con la superficie de diferentes formas. Una de estas interacciones produce electrones secundarios (SE) que son los electrones reflejados directamente por la acción del rayo incidente. Por otro parte, los electrones retrodispersados (BSE) son producto de una interacción más profunda con la muestra. También existen emisiones de rayos x por parte de los átomos  que son excitados por el haz incidente. A continuación se presenta una representación del haz incidente y el volumen de interacción en la muestra. 

 

Localización de la señal de electrones secundarios, retrodispersos, Auger, rayos X y volumen y profundidad de interacción haz-muestra.

Para cada una de las interacciones anteriormente mencionadas existe un tipo de detector que entrega información especifica de la muestra analizada. Con el detector de electrones secundarios (SE) se obtiene información respecto a la topografía y morfología de la muestra. Por otra parte los electrones retrodispersos (BSE) interactúan con los átomos y entregan información composicional (cualitativa) del espécimen analizado. Así mismo los rayos X emitidos son analizados mediante un detector de espectroscopia de difracción de rayos x (EDS) y de esta forma se obtiene análisis elemental de la muestra.

Además de los tipos de dectores, hay diferentes configuraciones que determinan el rendimiento del SEM para determinada aplicación. Las principales variables a tener en cuenta para la seleccion de un instrumento SEM son la magnificación, la resolución, los modos de vacio, el voltaje de aceleración, fuente de electrones y tipos de detectores.

En Intek Group contamos con personal experto para la asesoria en la selección de variables por aplicación. A continuación se presentan las opciones para estudios de microscopia electronica de barrido y las diferentes soluciones que brindamos.

 


Microscopio electrónico de barrido (normal SEM)

Equipo de microscopia electronica de barrido convencional CX-200 TM de Coxem.

Equipo de microscopia electronica de barrido convencional CX-150  de Coxem.

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es usado principalmente para el estudio a nivel nanométrico. Además, puede realizar análisis elementales mediante la combinación con diferentes tipos de detectores como el de rayos x (EDS). Esta configuración es la mejor herramienta para entender la topografía, composición y distribución elemental de los materiales analizados. Un SEM convencional alcanza hasta 300.000X (electrónica real) y resoluciones de hasta 3.0 nm.


Microscopio electrónico de barrido compacto (top table)

SEM Top Table

Microscopio electrónico de barrido compacto Coxem

Innovador microscopio electrónico de barrido compacto (SEM-EDS) para mantenerse a la vanguardia en investigación y desarrollo a nanoescala. El SEM compacto o toptable es un equipo con especificaciones de alto rendimiento, hasta 150.000X y resolución de 5 nm. Este equipo de mesa es apropiado para aplicaciones industriales y educativas permite tener imagenes de alta calidad de manera rápida así como la adquisición de datos de análisis elemental por EDS.


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