Microscopios de alta resolución

Sistemas de microscopia de alta resolución por contacto, fuerza modulada o muestreo inteligente, permite la medición a escala nanométrica de propiedades mecánicas, térmicas y electromagnéticas, entre otras. Bajo esta técnica es posible evaluar muestras liquidas y solidas en condiciones de temperatura desde los -120°C hasta los 300°C, humedad y vacío.

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es usado principalmente para el estudio a nivel nanométrico. Además, puede realizar análisis elementales mediante la combinación con diferentes tipos de detectores como el de rayos x (EDS). Esta configuración es la mejor herramienta para entender la topografía, composición y distribución elemental de los materiales analizados. Versiones convencionales y de sobremesa o top table están disponibles en conjunto con una gran variedad de detectores como SE, BSE, UVD, EDS, WDS, EBSED, Catodoluminiscencia, Raman entre otros.

Los sistemas de microscopia electrónica de barrido por emisión de campo con cátodo caliente, convencionalmente conocido FE-SEM Schottky son herramientas fundamentales para el análisis nanométrico de alto rendimiento, que incluye una gran variedad de funcionalidades como observación de área amplia, análisis in situ, presión variable, imágenes de alta resolución a bajos voltajes de aceleración y recolección simultánea de múltiples señales.

El máximo desempeño para sistemas de microscopia electrónica de barrio emplea un cañón electrónico de emisión de campo frío (CFE) optimizada para imágenes de alta resolución a bajos voltajes de aceleración, entregando la mejor resolución y menor aberración del mercado. Esta pistola CFE permite ampliar imágenes de alta resolución hasta 2 millones de veces, alcanzando resoluciones por debajo de los 0.7 nm.

Una amplia gama de microscopios electrónicos de transmisión (TEM) y microscopios electrónicos de transmisión de barrido (STEM) adecuados para caracterizaciones estructurales y químicas de nanomateriales, semiconductores, tecnología energética, polímeros, materiales vítreos, mecanismos biomoleculares de enfermedades, arquitectura 3D de células y tejidos, virus y complejos macromoleculares

Los sistemas FIB-SEM se han convertido en una herramienta indispensable para la caracterización y análisis de las últimas tecnologías de materiales a nanoescala de alto rendimiento que tienen una alta demanda de evaluación de secciones transversales delgadas, reconstrucción 3D y visualización SEM en tiempo real y sin la introducción de artefactos durante el procesamiento, convirtiendo al FIB-SEM en los sistemas más avanzados en tecnologías de óptica de iones y electrones.