Microscopios SEM

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es usado principalmente para el estudio a nivel nanométrico. Además, puede realizar análisis elementales mediante la combinación con diferentes tipos de detectores como el de rayos x (EDS). Esta configuración es la mejor herramienta para entender la topografía, composición y distribución elemental de los materiales analizados. Versiones convencionales y de sobremesa o top table están disponibles en conjunto con una gran variedad de detectores como SE, BSE, UVD, EDS, WDS, EBSED, Catodoluminiscencia, Raman entre otros.

Microscopio electrónico de barrido SU3800/SU3900

Microscopio electrónico de barrido SU3800/SU3900

Los microscopios electrónicos de barrido SU3800 / SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen tanto operabilidad como capacidad de expansión. El operador puede automatizar muchas operaciones y utilizar de manera eficiente su alto rendimiento. El SU3900 está equipado con una gran cámara de muestras multipropósito para permitir la observación de muestras grandes.

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Microscopios electrónicos de alta resolución - Intek Group

Análisis de correlación mediante microscopía SEM, SPM Y CSI

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Capacidades mejoradas de microscopios SU-3000 Series HITACHI HIGH TECH

Los SEM se utilizan en nanotecnología, biotecnología y muchos otros sectores industriales para una amplia gama de propósitos analíticos y de observación.
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