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Inicio / Equipos especializados / Microscopios de alta resolución / Microscopios Electrónico de sobremesa TM4000II / TM4000Plus II

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    Microscopios Electrónico de sobremesa TM4000II / TM4000Plus II

    Familia:
    Microscopios SEM, Microscopios de alta resolución

    La serie TM4000 cuenta con innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de sobremesa. Esta nueva generación de microscopios Hitachi (TM) de larga data integra facilidad de uso, imágenes optimizadas e imágenes de alta calidad, manteniendo al mismo tiempo el diseño compacto de los productos de la serie Hitachi TM bien establecidos.

    Características Principales

     Se puede obtener una imagen de calidad con pasos sencillos.

    • Automatización, Observación y Análisis Elemental
    • Operación intuitiva en Camera Navi

    El uso de imágenes ópticas ayuda a navegar al área de observación objetivo fácilmente. Las imágenes SEM obtenidas se pueden colocar en capas en una imagen MAP de SEM

    • Creador de informes

    Simplemente seleccione imágenes y una plantilla para crear un informe personalizado. Los informes creados se pueden guardar o editar en formatos® de Microsoft Office.

     Varias aplicaciones de imágenes utilizando un estado de vacío bajo de 4 bajo.

    • Modo de reducción de carga

    La carga en una muestra se puede reducir con un solo clic.

    • Imagen de una variedad de materiales en condiciones de bajo vacío

    Las imágenes muestran observaciones de muestras no conductoras, como partículas de tóner de tinta y una superficie de hoja hidratada.

    • Innovador detector de elección secundaria para obtener detalles superficiales con muestras no conductoras en condiciones de vacío más bajas

    El TM4000Plus II puede observar no sólo muestras conductoras, sino también muestras no conductoras o hidratadas sin preparación de muestras. El cambio entre BSE y SE se puede realizar fácilmente.

     Detector SE de vacío bajo de alta sensibilidad (UVD)

    El UVD de Hitachi genera imágenes de electrones secundarios mediante la detección de luz visible excitada por interacciones de gas electrones.

    Ventajas de la tensión de aceleración de 20 kV

     El alto voltaje de aceleración permite un análisis EDS de mayor velocidad.

    Datos de mapeo de EDS a 20 kV en 2 minutos

    Zigzag múltiple (opción)

    Una función que toma varias imágenes de alta ampliación y las une para crear una sola imagen de alta resolución.

    Soporte STEM (opción)

    Obtenga fácilmente imágenes transmitidas en muestras delgadas

    El soporte STEM recientemente desarrollado se puede utilizar para realizar imágenes de transmisión con el Hitachi UVD. Se pueden obtener imágenes de muestras delgadas o biológicas.

    Leer más

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    VER GUÍAS Compra, instalación y uso
    Modelo TM4000Plus II TM4000 II
    Aumentos 10× – 100.000× (ampliación fotográfica)
    25× – 250.000× (ampliación de la pantalla del monitor)
    Tensión de aceleración 5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV
    Señal de imagen Mezcla de electrones secundarios con retrodispersados (electrones retrodispersados + electrones secundarios) Electrón retrodispersados
    Modo de vacío EEB: Conductor/Standard/Reducción de carga

    SE: Combinación de reducción estándar/de carga

    EEB: Reducción estándar/de carga
    Recorrido de etapa de muestra X: 40 mm, Y: 35 mm
    Tamaño máximo de la muestra 80 mm (diámetro), 50 mm (espesor)
    Pistola de electrones Filamento de tungsteno de cartucho pre centrado
    Sistema de detección de señales Detector BSE de 4 segmentos de alta sensibilidad Detector SE de alta sensibilidad (UVD) Detector BSE de 4 segmentos de alta sensibilidad
    Sistema de evacuación (bomba de vacío) Bomba molecular turbo: bomba diafragma de 67 L/s×1 unidad: unidad de 20 L/min×1
    Tamaño / peso Unidad principal (etapa motorizada): 330 (ancho)×614 (profundidad)×547 (altura) mm, 54 kg

    Unidad principal (etapa manual): 330 (ancho)×617 profundidad)×547(altura) mm, bomba diafragma de 54 kg: 144 (anchura)×270 (profundidad)×216 (altura) mm, 5,5 kg

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