Microscopios TEM

El HD-2700 es un microscopio electrónico de transmisión de barrido (STEM) con pistola de emisión de campo de 80-200 kV con capacidad de generación de imágenes de electrones secundarios (SE). Es posible obtener imágenes de las estructuras a granel y de superficie de una muestra de forma simultánea. Con la opción de un corrector de aberraciones de formación de sondas, se puede lograr una resolución ultra alta tanto para imágenes STEM como SE. El corrector de Hitachi minimiza el esfuerzo del usuario para corregir la aberración. Características Principales:  Imágenes STEM de alta resolución Imagen HAADF-STEM 0,136 nm, imagen FFT 0,105 nm (lente HR...

TEM / STEM con corrección de aberración de 200 kV exclusivo de Hitachi: la armonía perfecta entre la resolución de imágenes y el rendimiento analítico La resolución espacial de 0.078 nm en STEM se logra junto con una alta capacidad de inclinación de la muestra y detectores EDX de gran ángulo sólido, todo en una configuración de lente de objetivo único. Características Principales: Corrector de aberraciones esféricas de formación de sondas totalmente automatizado de Hitachi Cañón de electrones FE frío de alto brillo y alta estabilidad (Cold FEG) Columna y fuentes de alimentación ultraestables para un rendimiento mejorado del instrumento...

"El HT7800 RuliTEM es un microscopio electrónico de transmisión (TEM) de 120 kV con múltiples configuraciones de lentes, que incluyen una lente estándar para un alto contraste insuperable y una lente HR líder en su clase para alta resolución. Este avance en diseño innovador avanzado permite flujos de trabajo altamente eficientes y muchas aplicaciones especializadas. Representa la solución de vanguardia para los análisis TEM modernos."