El HD-2700 es un microscopio electrónico de transmisión de barrido (STEM) con pistola de emisión de campo de 80-200 kV con capacidad de generación de imágenes de electrones secundarios (SE). Es posible obtener imágenes de las estructuras a granel y de superficie de una muestra de forma simultánea. Con la opción de un corrector de aberraciones de formación de sondas, se puede lograr una resolución ultra alta tanto para imágenes STEM como SE. El corrector de Hitachi minimiza el esfuerzo del usuario para corregir la aberración.
Características Principales:
Imágenes STEM de alta resolución
Imagen HAADF-STEM 0,136 nm, imagen FFT 0,105 nm (lente HR *)
Imagen BF STEM 0,204 nm (sin corrector Cs)
Análisis EDX de alta velocidad y sensibilidad: corriente de la sonda × 10 veces
Mapeo elemental rápido y oportuno
Detección de elementos de baja concentración
Corrector de Cs desarrollado por Hitachi
Equipado con un corrector de aberraciones esféricas formador de sondas desarrollado por Hitachi, el proceso automático de corrección de aberraciones lleva poco tiempo y no requiere experiencia previa para la corrección de aberraciones.
Solución perfecta desde la preparación de muestras hasta la observación y el análisis
Soporte compatible con Hitachi FIB
*: Accesorio opcional
Imágenes SEM con corrección de Cs
El STEM dedicado de la serie HD de Hitachi está equipado con un detector de electrones secundarios (SE) como configuración estándar; esto permite obtener imágenes de la superficie de la muestra directamente, además de obtener información estructural interior de la muestra a través del haz de electrones transmitido. Las imágenes SE ofrecen mediciones de dimensiones finas de muestras más gruesas que no son compatibles con STEM. La corrección de la aberración esférica empuja la resolución SEM a un nivel atómico verdadero sin precedentes.
Gran detector EDS de ángulo sólido
Un SDD de ángulo sólido grande (100 mm 2) proporciona una sensibilidad analítica EDS muy mejorada en comparación con modelos anteriores, así como un mayor rendimiento del análisis elemental en un tiempo de adquisición de datos más corto.
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