FIB-SEM se han convertido en una herramienta indispensable para la caracterización y análisis de las últimas tecnologías y materiales a nanoescala de alto rendimiento. Una demanda cada vez mayor de láminas TEM ultrafinas sin artefactos durante el procesamiento de FIB requiere lo mejor en tecnologías de óptica de iones y electrones. El sistema SEM de alta resolución y FIB de alto rendimiento NX2000 de Hitachi con su exclusivo control de orientación de la muestra y tecnologías de triple haz, admite un alto rendimiento y una preparación de muestras TEM de alta calidad para aplicaciones de vanguardia. Características Principales: La detección...
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