Microscopios FIB-SEM

FIB-SEM se han convertido en una herramienta indispensable para la caracterización y análisis de las últimas tecnologías y materiales a nanoescala de alto rendimiento. Una demanda cada vez mayor de láminas TEM ultrafinas sin artefactos durante el procesamiento de FIB requiere lo mejor en tecnologías de óptica de iones y electrones. El sistema SEM de alta resolución y FIB de alto rendimiento NX2000 de Hitachi con su exclusivo control de orientación de la muestra y tecnologías de triple haz, admite un alto rendimiento y una preparación de muestras TEM de alta calidad para aplicaciones de vanguardia. Características Principales:  La detección...

Sistema de haz de iones y electrones enfocado Ethos NX5000 El Hitachi Ethos FIB-SEM incorpora el FE-SEM de última generación con un brillo y una estabilidad de haz excelentes. Ethos ofrece imágenes de alta resolución a bajos voltajes combinados con óptica iónica para un procesamiento de precisión a nanoescala. Características Principales:  Columna FE-SEM de alto rendimiento con modo de doble lente Observación de ultra alta resolución (modo HR: semi-en-lente) Detección de punto final de alta precisión en tiempo real (modo FF: Field Free (modo de tiempo compartido)) Procesamiento de materiales de alto rendimiento Procesamiento ultrarrápido con alta densidad de corriente...

Analítica 3D en tiempo real El NX9000, incorpora un diseño optimizado para un verdadero seccionamiento en serie de alta resolución para abordar las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema NX9000 FIB-SEM permite la más alta precisión en el procesamiento de materiales para una amplia gama de áreas relacionadas con materiales avanzados, dispositivos electrónicos, tejidos biológicos y una multitud de otras aplicaciones. Características Principales: La columna SEM y la columna FIB están dispuestas ortogonalmente para optimizar el posicionamiento de la columna para el análisis estructural 3D. La combinación de fuente de electrones de...