Microscopios FIB-SEM

Los sistemas FIB-SEM se han convertido en una herramienta indispensable para la caracterización y análisis de las últimas tecnologías de materiales a nanoescala de alto rendimiento que tienen una alta demanda de evaluación de secciones transversales delgadas, reconstrucción 3D y visualización SEM en tiempo real y sin la introducción de artefactos durante el procesamiento, convirtiendo al FIB-SEM en los sistemas más avanzados en tecnologías de óptica de iones y electrones.