Analítica 3D en tiempo real
El NX9000, incorpora un diseño optimizado para un verdadero seccionamiento en serie de alta resolución para abordar las últimas demandas en análisis estructural 3D y para análisis TEM y 3DAP. El sistema NX9000 FIB-SEM permite la más alta precisión en el procesamiento de materiales para una amplia gama de áreas relacionadas con materiales avanzados, dispositivos electrónicos, tejidos biológicos y una multitud de otras aplicaciones.
Características Principales:
- La columna SEM y la columna FIB están dispuestas ortogonalmente para optimizar el posicionamiento de la columna para el análisis estructural 3D.
- La combinación de fuente de electrones de emisión de campo frío de alto brillo y óptica de alta sensibilidad respalda el análisis de una amplia gama de materiales, desde tejidos biológicos hasta materiales magnéticos.
- El sistema de micro-muestreo y el sistema Triple Beam permiten la preparación de muestras de alta calidad para aplicaciones TEM y sonda atómica.
Molienda de iones y observación con incidencia normal en tiempo real para obtener imágenes analíticas verdaderas
La columna SEM y la columna FIB están dispuestas ortogonalmente para realizar imágenes SEM incidentes normales de secciones transversales FIB. La disposición de la columna ortogonal elimina la deformación del aspecto, el acortamiento de las imágenes transversales y el cambio del campo de visión (FOV) durante la obtención de imágenes de la sección en serie, lo que no puede evitarse con los sistemas FIB-SEM convencionales. Las imágenes del NX9000 permiten un análisis estructural 3D de alta precisión. La microscopía óptica correlativa se puede aplicar fácilmente debido al beneficio de la obtención de imágenes EM de superficie plana.
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