Microscopio electrónico de barrido Schottky de ultra alta resolución SU7000, FE-SEM moderno requiere no solo un alto rendimiento, sino también una multitud de funcionalidades que incluyen observación de área amplia, análisis in situ, presión variable, imágenes de alta resolución a bajos voltajes de aceleración y recolección simultánea de múltiples señales. El SU7000 está diseñado para abordar estos aspectos y más al brindar información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica. CARACTERÍSTICAS PRINCIPALES: Capacidad de generación de imágenes versátil El SU7000 se destaca en la adquisición rápida de múltiples señales para abordar las necesidades expansivas de SEM,...
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