Microscopio electrónico de barrido Schottky de ultra alta resolución SU7000, FE-SEM moderno requiere no solo un alto rendimiento, sino también una multitud de funcionalidades que incluyen observación de área amplia, análisis in situ, presión variable, imágenes de alta resolución a bajos voltajes de aceleración y recolección simultánea de múltiples señales.
El SU7000 está diseñado para abordar estos aspectos y más al brindar información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica.
CARACTERÍSTICAS PRINCIPALES:
Capacidad de generación de imágenes versátil
El SU7000 se destaca en la adquisición rápida de múltiples señales para abordar las necesidades expansivas de SEM, desde obtener imágenes de un amplio campo de visión hasta visualizar estructuras subnanométricas y todo lo demás.
La incorporación de sistemas ópticos y de detección de electrones de nuevo diseño permite la adquisición simultánea eficiente de múltiples electrones secundarios y señales de electrones retrodispersados.
Imágenes multicanal
El número de detectores montados en el SEM es cada vez mayor, junto con la necesidad de mostrar toda la información recopilada de forma eficaz. El SU7000 es capaz de procesar, mostrar y guardar hasta 6 señales simultáneamente para maximizar la adquisición de información.
Amplia variedad de técnicas de observación
La cámara de muestras y el sistema de vacío están optimizados para:
・Muestras de gran tamaño
・ Manipulación de muestras en varios ejes
・ Condiciones de presión variable
・ Condiciones criogénicas
・ Observación in situ de calentamiento y enfriamiento
Microanálisis
El cañón de electrones está equipado con un emisor Schottky que proporciona hasta 200 nA de corriente de haz para adaptarse a diversas aplicaciones de microanálisis.
La cámara de muestras y el diseño del puerto están diseñados para incorporar múltiples opciones analíticas que incluyen EDX, WDX, EBSD, catodoluminiscencia y más.
El SU7000 con la combinación de numerosos accesorios analíticos unifica técnicas multidisciplinarias en una sola plataforma.
RENDIMIENTO DE IMAGEN
Adquisición de información mejorada
El sistema de detección avanzado del SU7000 agiliza la adquisición de información estructural, topográfica, composicional, cristalográfica y de otro tipo al minimizar los cambios en las condiciones del microscopio, como la distancia de trabajo o la aceleración del voltaje.
Interfaz gráfica de usuario intuitiva
Pantalla de señal mejorada
- Modos de visualización personalizables.
- Configuraciones de monitor único y doble.
- Visualización simultánea de imágenes de hasta 4 canales (simple) y 6 canales (doble).
- Camera Scope y SEM MAP para navegación óptica por el escenario.
Diseño de pantalla altamente flexible
El software es capaz de mostrar 1, 2 o 4 señales, incluido el osciloscopio de la cámara o SEM MAP en un solo monitor.
Además, el panel de operaciones se puede personalizar para mostrar submenús en cualquier lugar de la pantalla.
Monitor doble
El primer monitor se puede utilizar como pantalla de imagen dedicada, mientras que el segundo monitor se utiliza para la operación.
Se muestran cinco imágenes de detector (UD, LD, UVD, MD y PD-BSED) y SEM MAP de inclusiones no metálicas en una muestra de acero (izquierda).
La pantalla muestra el menú del panel de operaciones y la ventana de imagen en miniatura en una pantalla (derecha).
La configuración de dos monitores admite una mayor productividad con un espacio de trabajo ampliado
OBSERVACIÓN Y ANÁLISIS AMPLIABLES
Gran cámara de muestras y gran platina
La cámara de muestras puede acomodar una muestra alta de φ 200 mm u 80 mm de altura y 18 puertos para accesorios. La platina grande tiene un recorrido de 135 mm (X) x 100 mm (Y) y puede aceptar hasta 2 kg de muestra. (*) Se puede montar fácilmente una muestra grande o un tipo variable de subetapas en la puerta del gran escenario de apertura frontal.
Sistema de detección que permite la observación dinámica
El SU7000 admite la observación en diversas condiciones ambientales. Se pueden seleccionar una variedad de detectores (*) como UVD y MD además del PD-BSED para observación en condiciones de bajo vacío.
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