Suministros e insumos

– Suministros e insumos para microscopia –


Los suministros e insumos para microscopia son de vital importancia a la hora de obtener un resultado satisfactorio. No solo para los consumibles que mantienen en optimo estado los equipos sino aquellos que facilitan el trabajo rutinario. El análisis por microscopia inicia desde la preparación de la muestra, en donde puede ser necesario el corte, seccionamiento y pulido de los especímenes. Así mismo, dependiendo la técnica, puede ser necesario recubrir, embeber, secar o criopreservación de la muestra.

También es importante considerar un apropiado fijado de la muestra con el fin de permitir su análisis, para lo cual existe una gran variedad de soportes, mallas. Mientras que, para la manipulación apropiada para evitar contaminación existen un sin número de herramientas como pinzas, tijeras, fórceps y demás. Por último, se debe considerar el almacenamiento apropiado tanto de muestras como herramientas y consumibles.

Por otro lado, los desempeños de los equipos deben ser evaluados constantemente según estándares internacionales que permitan su trazabilidad. De este modo es importante contar con materiales de referencia y estándares de calibración especiales para cada tipo de microscopio.

Dado todos estos factores debidos a los suministros e insumos para microscopia que pueden afectar la calidad del análisis Intek Group S.A.S. pone a su disposición variado un portafolio para apoyar la investigación en áreas como biología, histología, patología, geología, minerales y demás.  


Suministros e Insumos para Microscopia Electrónica de Barrido SEM

Kit de consumibles para SEM de Agar Scientific.

Los suministros e insumos para microscopia electrónica de barrido (SEM) más utilizados son los filamentos, carbon tape, pin stubs y estándares de calibración. Sin embargo, también son útiles herramientas como pinzas, tijeras y reactivos como targets para sputtering, pasta de plata entre otros. Algunos de estos consumibles dependen de las especificaciones técnicas del equipo. Por tanto se pueden configurar kits esenciales con todo lo básico para determinado equipo.

  • Cintas conductivas adhesivas 
  • Portamuestras y monturas.
  • Portamuestras especiales    
  • Filamentos  de Tungsteno y LaB6  
  • Kits de consumibles por marca de SEM
  • Muestras patrón y de calibración    
  • Mallas localizadoras para SEM – LM
  • Abrasivos y pastas diamantadas
  • Aperturas
  • Resina conductiva para muestras embebidas
  • Moldes para preparación de muestras embebidas
  • Pintura de plata 15g
  • Pintura de grafito
  • Cajas de almacenamiento de muestras
  • Grasas y lubricantes
  • Blancos para recubridores de metal
  • Estándares para sistemas de microanálisis de Rayos X

 


Suministros e Insumos para Microscopia Electrónica de Transmisión TEM

Estándar de calibración de la magnificación para TEM

Para microscopia electrónica de transmisión (TEM) los consumibles más utilizados son los filamentos, grids, soportes y estándares de calibración. También son útiles herramientas para preparación y seccionamiento de muestras como cuchillas de micrótomos y reactivos como glutaraldehido para secado de muestras biológicas. Algunos de estos consumibles dependen de las especificaciones técnicas del equipo. 

  • Rejillas Portamuestras Cu, Ni, Pt  (Mesh 50, 75, 150, 200, 300, 400 600, 700, 1000, 1500 y 2000, cuadrado, hexagonal, paralelo, circular)
  • Rejillas recubiertas con Formvar, carbón, Holey y Lacey carbon, carbón ultradelgado de 3nm
  • Rejillas portamuestras de materiales especiales (Aluminio, Molibdeno, Acero Inoxidable, Titanio)
  • Cajas de almacenamiento de rejillas
  • Cajas de almacenamiento de rejillas para Cryo
  • Películas para  Recubrimiento de rejillas  (Formvar, carbón)
  • Cuchillas para Microtomo y Ultramicrotomo
  • Barras de vidrio para cuchillas de microtomo y ultramicrotomo (6,8 y 10mm)
  • Estándares de medición y para microanálisis de Rayos X
  • Reactivos de preparación de muestras


Suministros e Insumos para Microscopia de Fuerza Atómica AFM

Estándar de Calibración para AFM de Agar Scientific

Los suministros e insumos para microscopia de fuerza atómica (AFM) más utilizados son los sondas, cantilevers y estándares de calibración. También son útiles herramientas para preparación de muestras como discos de especímenes o reactivos como resinas epóxicas. Algunos de estos consumibles dependen de las especificaciones técnicas del equipo. 

  • Puntas de AFM con recubrimientos de AlBS, CrAu y limpias (paq de 15, 50, 100, 200 y 400 unidades)
  • Puntas de AFM conductivas recubiertas de Cr-Au y  Pt (paq de 15, 50, 100 unidades)
  • Puntas de AFM reforzadas
  • Puntas de AFM magnéticas
  • Puntas de alta resolución
  • Muestar de Highly ordered pyrolytic graphite (HOPG)
  • Muestra de calibración de dimensión crítica (CD) – 500-200-100 nm


Suministros e Insumos para microscopia óptica

Suministros e insumos para microscopia óptica

Los suministros e insumos para microscopia óptica más utilizados en aplicaciones como biología, histología y patología. Existen herramientas útiles para preparación de muestras como las de disección, incrustación de tejidos, laminas cubre y portaobjetos entre otros. También existen materiales para la calibración y etapas de calentamiento o enfriamiento para este tipo de equipos . 


                         

         

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