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    Microscopio de sonda de barrido AFM5500M

    Familia:
    Microscopios AFM

    El AFM5500M es una plataforma AFM equipada con una etapa de 4 pulgadas totalmente direccionable, optimizada para muestras de tamaño mediano. Ofrece niveles excepcionales de facilidad de uso, automatización y precisión, así como correlación para las investigaciones AFM / SEM

    Características Principales:

     

    Facilidad de uso

    Simplificando significativamente la operación AFM

    • Acceso amplio a la punta y a la muestra
    • Etapa de 4 pulgadas totalmente direccionable que elimina la necesidad de volver a montar / girar la muestra
    • Función de apuntar y hacer clic que permite una navegación de muestra sencilla y rápida basada en la cámara
    • Todos los accesorios incorporados permiten un cambio de modo sin interrupciones y controlado por software

    Automatización

    Imágenes AFM más fáciles, rápidas y precisas

    • Cambio de voladizo automatizado
    • Alineación láser automatizada
    • Optimización de imagen automatizada (RealTune® II)
    • Mediciones de AFM automatizadas siguiendo una receta

    Precisión

    Precisión mejorada de las mediciones de AFM

    • Diseño basado en flexión que proporciona un escaneo superior plano y ortogonal
    • Escáner de circuito cerrado que permite obtener imágenes altamente lineales y precisas
    • Bajo nivel de ruido del sensor que produce resultados de alta resolución y calidad
    • Capacidad de evaluación de puntas que garantiza la calidad de la sonda y las imágenes sin artefactos.

    Escaneo plano

    • El AFM convencional con un escáner de tubo piezoeléctrico requiere aplanamiento o nivelación de datos debido a su movimiento curvo intrínseco. Sin embargo, este aplanamiento puede distorsionar la estructura de la micro-superficie de una muestra, incluido su valor Z. El AFM5500M de nuevo desarrollo está equipado con un escáner basado en flexión que permite escaneos de trama bien controlados solo en las direcciones X e Y. Como resultado, este diseño de escáner avanzado puede eliminar efectivamente las curvaturas de fondo en un área de escaneo amplia y mejorar la precisión de las mediciones de AFM.

    Alta ortogonalidad

    • El uso de un escáner de tubo piezoeléctrico convencional puede provocar interferencias al doblar el escáner de tubo.Esta conversación cruzada conduce a distorsiones y asimetrización. El escáner mejorado del AFM5500M reduce la diafonía, lo que permite realizar mediciones precisas y simétricas.

    Correlación

    Imágenes correlativas de AFM y SEM

    • El soporte de alineación compartido SEM / AFM, propiedad de Hitachi, proporciona mediciones y análisis rápidos y sencillos de la topografía, las estructuras, la composición y las propiedades de la superficie.

    Mediciones AFM y SEM de la misma área (muestra: grafeno / SiO2)

    Superposición de imágenes de SEM, AFM (topografía) y KFM (potencial de superficie)

    • Se puede concluir a partir de las mediciones de altura de sesiones cruzadas de AFM que esas diferencias de contraste en la imagen SEM corresponden a la variación de las capas de grafeno en la imagen de AFM.
    • Indica que el potencial de la superficie (función de trabajo) de las láminas de grafeno depende en gran medida del grosor de la muestra, es decir, del número de capas de grafeno.
    • Los datos topográficos 3D de alta precisión junto con el examen de propiedades eléctricas proporcionan una fuerte evidencia para identificar la causa raíz de las variaciones capturadas en los contrastes SEM.

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    VER GUÍAS Compra, instalación y uso
    Etapa Etapa de 100 mm (4 pulgadas) automatizada y totalmente direccionable
    Rango de recorrido: XY ± 50 mm (2 pulgadas), Z ≥21 mm
    Tamaño de paso mínimo: XY 2 µm, Z 0,04 µm
    Tamaño de la muestra Diámetro: 100 mm (4 pulgadas)
    Espesor: 20 mm
    Peso: 2 kg
    Rango de escaneo 200 µm x 200 µm x 15 µm (XY: control de bucle cerrado, Z: sensor de desplazamiento)
    Nivel de ruido RMS * ≤0.04 nm (modo de alta resolución)
    Repetibilidad * XY: ≤15 nm (3σ, midiendo un paso de 10 µm) / Z: ≤1 nm (3σ, midiendo 100 nm de profundidad)
    Ortogonalidad XY ± 0,5 °
    Inclinarse* ≤2 nm / 50 µm
    Detección Palanca óptica (luz de baja coherencia)
    Microscopio óptico de vista superior Ampliación del zoom: x1 ~ x7
    Campo de visión: 910 µm x 650 µm ~ 130 µm x 90 µm
    Ampliación del monitor: x465 ~ x3255 (monitor de 27 pulgadas)
    Anti-vibraciones Antivibración activa de escritorio 500 mm (W) x 600 mm (D) x 84 mm (H), aproximadamente 28 kg
    Cubierta insonorizada 750 mm (ancho) x 877 mm (fondo) x 1400 mm (alto), aproximadamente 237 kg
    Tamaño 400 mm (W) x 526 mm (D) x 550 mm (H), aproximadamente 90 kg

    * El rendimiento del sistema depende del entorno de instalación y su configuración.

    Video

    Próximamente. Lo invitamos a consultar nuestro canal de Youtube

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