La fuente de emisión de campo frío es ideal para imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una distribución de energía pequeños. La innovadora tecnología CFE Gun aporta lo último en FE-SEM con un brillo y una estabilidad de haz superiores, lo que permite obtener imágenes de alta resolución y análisis elemental de alta calidad. El diseño de lente de objeto único tiene una capacidad de EELS y difracción también.
El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Cuenta con una óptica electrónica única, con la muestra colocada dentro de un espacio entre las partes superior e inferior de la pieza polar de la lente del objetivo. Este concepto llamado verdadero en lente, combinado con la próxima generación de tecnología de emisión de campo frío de HITACHI, garantiza la mayor resolución posible del sistema y estabilidad.
Para que este poder de resolución se pueda utilizar en aplicaciones prácticas en su laboratorio, el SU9000 utiliza una etapa de muestra de entrada lateral ultraestable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora amortiguación de vibraciones optimizada y un gabinete cerrado para proteger la óptica electrónica del ruido ambiental.
Además de una resolución pura e insuperable, el SU9000 también está equipado con un notable sistema de detección 2 + 2 para la superficie de la muestra, la composición y las observaciones de transmisión.
El uso combinado del filtro Super ExB patentado con el primer detector superior permite a los usuarios filtrar y recolectar señales de energía SE y LA-BSE de interés, suprimiendo así los artefactos de carga y mostrando detalles topográficos, y el detector superior recibe selectivamente señales HA-BSE. Proporcionar información libre de topografía sobre diferencias de orientación de material y cristalográficas. Esta tecnología de selección de señales convierte al SU9000 en un sistema preferido para catalizadores y otras áreas de investigación, así como para aplicaciones de inmunomarcaje biológico y farmacéutico cuando se usa en combinación con un portamuestras criogénico.
El SU9000 también es un STEM de bajo kV increíblemente poderoso, que a menudo exhibe un mayor contraste en las características críticas de la muestra que los sistemas S-TEM de alta energía. Además, es posible obtener imágenes simultáneas de campo claro y campo oscuro anular con el detector de campo oscuro configurable en 56 posiciones diferentes para una selección optimizada del contraste Z del patrón de interés.
La asombrosa estabilidad del SU9000 permite una especificación de resolución STEM garantizada de 0,34 nm, lo que permite la observación de franjas de celosía de grafito, por ejemplo, en un nanotubo de carbono.
Características Principales:
- Se garantiza la resolución SE más alta del mundo de 0,4 nm a 30 kV.
- Ampliación utilizable de hasta 3.000.000x.
- CFE GUN de nuevo diseño proporciona un alto brillo y una corriente de emisión extremadamente estable.
- Rendimiento superior de kV bajo para observar materiales sensibles al haz.
- La óptica Hitachi In-Lens SEM de última generación permite la observación de rutina a 1.000.000x.
- Tecnología de vacío mejorada que permite niveles de UHV para reducir la contaminación de la muestra.
- Caja de instrumentos de alta ingeniería que ofrece una resistencia y estabilidad superiores para permitir imágenes de alta resolución en una amplia gama de condiciones ambientales.
- La lente de objetivo de nuevo diseño permite obtener imágenes de alta resolución a un voltaje de aceleración bajo.
- El sistema de intercambio de muestras de entrada lateral aumenta el rendimiento al reducir el tiempo necesario para cambiar las muestras y colocar automáticamente la muestra en el WD actual
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